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  专利号:ZL201220161303.8
  型号:XTL-2K
  用途:1、LED外延片/芯片/PSS图形缺陷检测
           2、支持排线及电子印刷等图形缺陷检测
 
 
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  型号:XTL-5K
  用途:薄膜光伏面板、各类光学玻璃和镀膜版的缺陷扫描分析
 
 
 
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  专利号:ZL201120280620.7
  型号:WB-70RX
  用途:1.弧高测量 2.台阶测量 3.器件尺寸测量
 
 
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  专利号:ZL201120527630.6
  型号:WB-2K2
  用途:键合工艺分析 - 缺线、断线、弯线、交叉丝缺陷检测
 
 
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